База кодов ГОСТ Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 ← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
Название: Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствораНазвание: Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Название: Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации Название (англ): Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизацииНазвание: Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Название (англ): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного токаНазвание: Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Название (англ): Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизацииНазвание: Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости Название (англ): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкостиНазвание: Варикапы. Метод измерения добротности Название (англ): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикаповНазвание: Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим Название (англ): Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасностиНазвание: Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Название (англ): Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизацииНазвание: Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления Название (англ): Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
Previous post: База кодов ТНВЭД Поиск по базе ОКУН