База кодов ГОСТ Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 ← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
Название: Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь Название (англ): Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
Название: Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления Название (англ): Semicondactor UHF mixer diodes. Measurement method of input impedance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на смесительные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения полного входного сопротивленияНазвание: Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности Название (англ): Semiconductor UHF detector diodes. Measurement methods of tangential sensitivity Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ детекторные диоды и устанавливает два метода измерения тангенциальной чувствительности: прямой и косвенныйНазвание: Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты Название (англ): Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency Назначение: Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частотыНазвание: Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления Название (англ): Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивленийНазвание: Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей Название (англ): Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режимеНазвание: Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров Название (англ): Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателейНазвание: Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости Название (англ): Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
Название: Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения Название (англ): Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излученияНазвание: Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения Название (англ): Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
Previous post: База кодов ТНВЭД Поиск по базе ОКУН